Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/16376
Registro completo de metadatos
Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorHernández Ambato, Jorge Luis-
dc.contributor.authorToro Sánchez, Alexander Fernando-
dc.date.accessioned2022-07-29T16:54:22Z-
dc.date.available2022-07-29T16:54:22Z-
dc.date.issued2020-03-11-
dc.identifier.citationToro Sánchez, Alexander Fernando. (2020). Implementación de un prototipo de fuente de alimentación de 1200v de baja corriente para pruebas de estrés eléctrico en transistores de potencia. Escuela Superior Politécnica de Chimborazo. Riobamba.es_ES
dc.identifier.urihttp://dspace.espoch.edu.ec/handle/123456789/16376-
dc.descriptionSe implementó un prototipo de fuente de alimentación de 1200v de baja corriente para pruebas de estrés eléctrico en transistores de potencia. Con la creación de este proyecto de titulación se pretendió resolver el problema de falta de instrumentación dedicada a pruebas de fiabilidad más comunes. Entre ellas: High Temperature Reverse Bias (HTRB), caracterización de corriente-tensión entre drenaje y fuente. Siendo este dispositivo de bajo consto, amigable con el usuario. El diseño del prototipo empezó por el establecimiento de requerimientos técnicos y funcionales orientados a las pruebas de estrés eléctrico, entre ellos: voltaje variable hasta 1200V, medición de corriente y tensión en la salida durante toda la prueba, límite de corriente ajustable por el usuario, protección contra sobre corriente y sobre tensión, etc. El prototipo se basa en el convertidor del tipo Flyback, conmutado por una señal PWM proveniente de un microcontrolador que se encarga de mantener estable la tensión de salida a través de un algoritmo de control en lazo cerrado. Para la interacción con el usuario se creó una interfaz HMI en el software QT-Creator de código abierto. Además, brinda la capacidad de ser utilizado en otras aplicaciones como caracterización de I-V. Una vez terminado el proceso de diseño e implementación de prototipo se procedió a la etapa de calibración y pruebas, donde se logró efectuar con éxito varios test de estrés eléctrico, con la ayuda de una estación de calor que mantiene el encapsulado del dispositivo a la temperatura máxima según el fabricante con el fin de lograr acelerar los mecanismos de falla de los MOSFET en cuestión. Se recomienda mejorar el prototipo con la dotación de una fuente ininterrumpida de alimentación (UPS), de manera que la prueba no se suspenda en ausencia del suministro eléctrico.es_ES
dc.description.abstractA 1200v low current power supply prototype was implemented for electrical stress tests on power transistors. With the creation of this degree project, the problem of lack of instrumentation dedicated to more common reliability tests was attempted. Among them: High Temperature Reverse Bias (HTRB), current-voltage characterization between drain and source. Being this low consto device, user friendly. The prototype design began with the establishment of technical and functional requirements for electrical stress tests, including: variable voltage up to 1200V, current measurement and output voltage throughout the test, user adjustable current limit, overcurrent and over voltage protection, etc. The prototype is based on the Flyback converter, switched by a PWM signal from a microcontroller that is responsible for maintaining stable output voltage through a closed loop control algorithm. For the interaction with the user, an HMI interface was created in the open source QT-creator software. In addition, it provides the ability to be used in other applications such as I-V characterization. Once the prototype design and implementation process was completed, the calibration and testing stage was carried out, where several electrical stress tests were successfully carried out, with the help of a heat station that keeps the device encapsulated at the temperature maximum according to the manufacturer in order to accelerate the failure mechanisms of the MOSFETs in question. The prototype could be improved with the provision of an uninterruptible power supply (UPS), so that the test is not suspended in the absence of electrical power.es_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherEscuela Superior Politécnica de Chimborazoes_ES
dc.relation.ispartofseriesUDCTFIYE;108T0329-
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.subjectINGENIERIA ELECTRONICAes_ES
dc.subjectBAJA CORRIENTEes_ES
dc.subjectPRUEBAS DE ESTRÉS ELÉCTRICOes_ES
dc.subjectTRANSISTORES DE POTENCIAes_ES
dc.subjectINSTRUMENTACIÓNes_ES
dc.titleImplementación de un prototipo de fuente de alimentación de 1200v de baja corriente para pruebas de estrés eléctrico en transistores de potencia.es_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises_ES
dc.contributor.miembrotribunalRodríguez Flores, Jesús Alberto-
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/ec/es_ES
Aparece en las colecciones: Ingeniero en Electrónica, Control y Redes Industriales; Ingeniero/a en Electrónica y Automatización

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
108T0329.pdf3,73 MBAdobe PDFVista previa
Visualizar/Abrir


Este ítem está sujeto a una licencia Creative Commons Licencia Creative Commons Creative Commons